CARACTERIZAÇÃO MINERALÓGICA DE RESERVATÓRIOS SILICICLÁSTICO NA BACIA DE CAMPOS, COM USO DE DADOS DE DIFRAÇÃO (DRX) e FLUORESCECIA (FRX) DE RAIO X

Authors

Aline Araújo Karl UENF
Victor Hugo Santos UENF

Keywords:

Bacia de Campos, Difração, Fluorescência

Abstract

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Issue

2015: VII CONFICT - Congresso Fluminense de Iniciação Científica e Tecnológica

Section

Resumos UENF - Engenharias